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Specim FX50中波紅外高光譜成像儀
更新時(shí)間：2019-04-02
訪問次數(shù)：3498
芬蘭時(shí)間4月1日上午9點(diǎn)（北京時(shí)間4月1日下午15點(diǎn)），Specim正式發(fā)布適用于工業(yè)機(jī)器視覺領(lǐng)域的中波紅外高光譜成像儀——Specim FX50中波紅外高光譜成像儀。
| 品牌 | SPECIM/芬蘭 | 成像方式 | 二元光學(xué)元件 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 使用狀態(tài) | 機(jī)載/地面均可 |
| 工作原理 | 推掃型 |
芬蘭時(shí)間4月1日上午9點(diǎn)（北京時(shí)間4月1日下午15點(diǎn)），Specim正式發(fā)布適用于工業(yè)機(jī)器視覺領(lǐng)域的中波紅外高光譜成像儀——Specim FX50中波紅外高光譜成像儀。
Specim FX50中波紅外高光譜成像儀大的特點(diǎn)是，選用中波紅外（MWIR）區(qū)域，可用于識(shí)別和分類難處理的黑色塑料，分析碳?xì)浠衔锖偷V物，快速、可靠地檢測(cè)金屬表面的污染，提高準(zhǔn)確性，降低成本。因此一經(jīng)問世，便以高速、精確、高效的特點(diǎn)，引起了廣泛關(guān)注。
l 優(yōu)勢(shì)
Ø 市場(chǎng)上超緊湊和堅(jiān)固的MWIR高光譜相機(jī)
Ø 對(duì)黑色材料進(jìn)行分類識(shí)別的可靠方法
Ø 也可識(shí)別黑色ABS塑料，因?yàn)樗墓庾V區(qū)域可以延伸到5300 nm
Ø 為油氣和礦探生產(chǎn)過程中分析暗色樣品中礦物和碳?xì)浠衔锾峁┝诵碌?/span>技術(shù)手段
Ø 由于其在MWIR范圍的強(qiáng)光譜特征，能夠檢測(cè)低濃度雜質(zhì)
l 靈活性
相機(jī)覆蓋范圍內(nèi)150個(gè)波段可自由選擇
三種鏡頭可供選擇，以滿足不同帶寬需求
l 快速的光學(xué)設(shè)計(jì)
高靈敏度：能夠在較短積分時(shí)間內(nèi)提供良好的信號(hào)
l 集成方案
Ø 易于集成和更新現(xiàn)有系統(tǒng)（GigE接口）
Ø 兼容商業(yè)機(jī)器視覺軟件工具
Ø 可用Specim SDK和ASCII控制協(xié)議集成到現(xiàn)有軟件解決方案中
Ø 可用MWIR光源
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